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    MicroTEQ 系列顯微拉曼光譜測量系統


    MicroTEQ是海洋光學最新推出的顯微光譜測量系列,共有三個系統組成其拉曼&熒光系列產品線,可以實現熒光,拉曼光譜測量功能,幫助用戶快速對樣品的微觀結構和光譜信息進行測試和分析。


    產品線特色


    1. 貼合需求:顯微拉曼和熒光系統均可根據客戶需求進行額外定制,支持不同激光波長,不同品牌和功能的顯微鏡改裝。
    2. 簡易系統:除了成套的顯微設備外,可以搭建適合現場或實驗室使用的簡易微區光譜測試系統,實現專用性或實時在線測試。
    3. Mapping:通過選配電動平臺,可以實現在一定范圍內的逐點掃描,并得到測試結果,同時結果還可以通過熱力圖的方式顯示出來。


    MicroTEQ-S1模塊化顯微光譜測試系統


    S1系統是一款集成了熒光,拉曼,和反射光譜測量的系統。通過集成在顯微光路中的多功能光譜模塊搭配不同形式的套件實現光譜測試功能。插入不同波長的Raman探頭,可實現拉曼測量功能;插入激發和收集光纖,可以實現微區熒光測量功能;組合白光光源和收集光纖,即可實現顏色,膜厚,反射等測量功能。結合同軸顯微成像,不僅能夠快速進行光譜分析,也可進行樣品微觀材料的觀察。

    MicroTEQ-S1模塊化顯微光譜測試系統



    MicroTeq-R1共焦拉曼方案


    MicroTEQ-R1顯微光譜測量系統,采用高精度微區光路平臺,通過加裝于正置顯微鏡光路中的拉曼光譜模塊,實現了共焦拉曼測量功能。幫助用戶快速的對樣品微觀結構,光譜信息進行測試和分析,大大的降低了微觀測試的復雜程度。系統使用制冷型高性能光纖光譜儀QE Pro,在提供高質量信號質量的同時,保證了測試效率。精密光路設計能夠實現1um級別的聚焦光斑和探測區域,系統可增配低波數模塊,實現75cm-1的探測范圍。

    MicroTEQ-R1模塊化顯微光譜測試系統



    MicroTEQ-A1顯微光譜測量系統


    MicroTEQ-A1顯微光譜測量系統整體設計思路相似于R1系統,但A1系統并非為一種確定型號的配置,系統配備了蔡司倒置熒光顯微鏡,并在三目鏡筒處加裝C口熒光光譜模塊,激光器使用了自由空間光路的單縱模532nm激光器,同是實現了532nm拉曼光譜測量,和多波長激發熒光光譜測量。本系統可以用于關測細胞熒光和活細胞代謝物的拉曼信號,非常適用于生命科學領域。

    MicroTEQ-R1模塊化顯微光譜測試系統


    MicroTEQ-R1模塊化顯微光譜測試系統


    基本規格:


    MicroTEQ-S1
    光譜儀配置 拉曼 拉曼 熒光
    光譜儀 QEPRO@532nm QEPRO@785nm QEPRO-FL
    光譜范圍 150-4200cm-1@532nm 150-2000cm-1@785nm 300-1050nm
    分辨率 ~10cm-1@5um狹縫 ~6cm-1@5um狹縫 1.5nm@5um狹縫
    探測器 背照減薄型面陣CCD
    激光器 LASER-532 LASER-785 LASER-405
    激光波長 532nm 785nm 405+/-2nm
    激光功率 0-300mW可調 0-500mW可調 0-200mW可調
    線寬 <0.2nm <0.1nm 2nm
    光譜范圍 400-1100nm
    顯微鏡(非本公司產品) 4組平場消色差物鏡:5X,10X,20X,50X
    二維電控平移臺(可選配) 一體式二維電控平移臺,含控制器;
    行程:50mmx50mm;
    重復定位精度:2um;
    移動分辨率:1um;


    MicroTEQ-R1
    光譜儀 型號 QE Pro 532Raman(同S1系統)
    探測器 ~10cm-1 @5μm狹縫(典型值)
    分辨率 半導體制冷背照式減薄型面陣探測器
    光路接口 SMA905光纖接口
    顯微鏡
    非本公司產品
    光路 無限遠色差校正光學系統
    物鏡 4組明暗場消色差物鏡:5X,10X,20X,50X
    照明器 明暗場照明器
    相機 CMOS相機,≥5.0MP
    光譜模塊 光路 激發,接收成像共焦設計
    適用激光波長 532nm(可定制其他波長)
    激光功率 0-20mW(到樣品)
    聚焦光斑尺寸 2μm@50X(典型值)
    光譜范圍 150-4200cm-1
    低波數模塊 75cm-1起
    尺寸 250*150*75mm
    重量 1.5Kg
    光學接口 激光器:FC/PC,光譜儀:SMA905
    顯微鏡接口 兼容國內外主流品牌顯微鏡

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